外露式线性编码器由标尺或标尺带和扫描头组成。他们的光电扫描方法是无接触和无磨损的，可检测宽度仅为微米的刻度线并产生信号周期非常短的输出信号。

LIC 4100系列

高精度绝对式线性编码器

用于高移动速度的线性轴

测量长度长达 28 m 

测量步距非常小的版本 (<1 nm)

提供高真空版本

提供功能安全版本

不同的安装选项

接口：EnDat、Fanuc、Mitsubishi、Panasonic 和 Yaskawa

LIC 3100系列

高精度绝对式线性编码器

用于高移动速度的线性轴

测量长度长达 10 m

10 nm 的小测量步长

插值误差：±100 nm

多种安装选项

接口：EnDat、Fanuc、Mitsubishi、Panasonic 和 Yaskawa

LIC 2100系列

适用于简单应用的绝对线性编码器

用于高移动速度的线性轴

测量长度可达 3020 mm

多种安装选项

耐污染

接口：EnDat、Fanuc、Mitsubishi、Panasonic 和 Yaskawa

LIP 300系列

高精度增量式线性编码器

适用于长度达 270 mm 的高精度线性轴

非常小的测量步长（<1 nm）

极高的重复性

载板上的测量标准

接口：1V PP

LIP 200系列

高精度增量式线性编码器

适用于长度达 3040 mm 的高精度线性轴

非常小的测量步长（<1 nm）

高速和位置稳定性

高重复性

接口：EnDat、Fanuc、Mitsubishi 和 1 V PP

LIP 6000系列

高精度增量式线性编码器

适用于长度达 3040 mm 的高精度线性轴

非常小的测量步长（<1 nm）

高速和位置稳定性

通过限位开关和归位轨道进行位置检测

紧凑的设计，适合有限的安​​装空间

接口：1V PP、TTL

LIF 400系列

高精度增量式线性编码器

适用于长度达 1640 mm 的高精度线性轴

可根据要求提供更长的 LIF 100 测量长度

非常小的测量步长（<2 nm）

耐污染

提供高真空版本

通过限位开关和归位轨道进行位置检测

接口：1V PP、TTL

LIDA400系列

高精度增量式线性编码器

用于高移动速度的线性轴

测量长度长达 30 m 

限位开关

可选择使用刻度或尺带

多种安装选项

耐污染

接口：1V PP、TTL

LIDA200系列

高精度增量式线性编码器

用于高移动速度的线性轴

测量长度长达 10 m 

多种安装选项

定长切割胶带

耐污染

带三色 LED 的集成信号质量指示器

接口：1V PP、TTL

PP 281

增量式二坐标编码器

用于平面内的精确位置测量

用于测量 1 µm 至 0.05 µm 的步长

接口：1V PP